國之重器出版工程衛(wèi)星充放電效應環(huán)境模擬方法

定　價：￥89.00

作　者：	李得天,楊生勝,秦曉剛,柳青,馮展祖著
出版社：	北京理工大學出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787568268288	出版時間：	2019-03-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	351	字數(shù)：

內容簡介

　　本書全面、系統(tǒng)地介紹了衛(wèi)星充放電效應試驗技術，主要內容有：充放電效應材料特性參數(shù)測試方法，包括二次電子發(fā)射系數(shù)、光電子、本征電導率、輻射誘導電導率、介電常數(shù)及介電強度；表面充放電效應試驗技術，主要包括表面充放電效應、引起表面充放電效應的空間環(huán)境、表面充放電效應模擬試驗設備、電離層等離子體充放電效應試驗技術、磁暴等離子體充放電效應試驗技術、極光等離子體環(huán)境充放電效應試驗技術、人為等離子體環(huán)境充放電效應試驗技術；深層介質充放電效應試驗技術，主要包括深層介質充放電效應及其對應的空間環(huán)境、現(xiàn)有深層介質充放電效應試驗設備、電子束流測量技術、介質內部電荷/電場分布測試技術、深層介質放電脈沖特性試驗技術；二次放電模擬試驗技術，主要包括高壓太陽電池二次放電機理、高壓部件SADA二次放電機理、高壓太陽電池二次放電模擬試驗技術、高能電子輻照誘發(fā)的SADA二次放電模擬試驗技術；衛(wèi)星充放電效應電磁脈沖干擾試驗技術，主要包括衛(wèi)星帶電放電、放電注入模擬源、空間靜電放電耦合方法、空間充放電效應耦合測試技術、衛(wèi)星部件充放電效應干擾試驗。

作者簡介

　　李得天，研究員，理學博士，博士生導師，國際宇航科學院院士，國家杰出青年科學基金獲得者，國防“973”項目首席科學家，國家“863”計劃主題專家，科技部創(chuàng)新人才推進計劃重點領域創(chuàng)新團隊負責人，國家國際聯(lián)合研究中心學術帶頭人，國家有突出貢獻中青年專家，入選國家百千萬人才工程和第三批國家“萬人計劃”科技創(chuàng)新領軍人才?，F(xiàn)任中國真空學會副理事長、中國宇航學會電推進專委會副主任、中國宇航學會計量與測試專委會副主任、中國計量測試學會常務理事兼真空計量專委會主任、真空技術與物理國防科技重點實驗室常務副主任、《真空與低溫》期刊主編等職。獲得國家技術發(fā)明二等獎1項、國家科技進步三等獎1項，省部級科技獎23項，榮獲何梁何利“科學與技術創(chuàng)新獎”、“中國真空科技成就獎”、“航天創(chuàng)新獎”、“航天貢獻獎”等，享受國務院政府特殊津貼。發(fā)表學術論文300余篇，出版著作6部。

圖書目錄

第 1章　緒論 001
1．1　衛(wèi)星充放電效應概念、影響因素及危害　003
1．1．1　衛(wèi)星充放電效應的基本概念　003
1．1．2　衛(wèi)星充放電效應的影響因素　006
1．1．3　衛(wèi)星充放電效應的危害　008
1．2　衛(wèi)星充放電效應試驗技術國內外研究現(xiàn)狀　017
1．2．1　國內外研究現(xiàn)狀概述　017
1．2．2　發(fā)展趨勢　022
第　2章充放電效應材料特性參數(shù)測試方法　025
2．1　二次電子發(fā)射特性測試　028
2．1．1　二次電子發(fā)射　028
2．1．2　二次電子發(fā)射系數(shù)　029
2．1．3　二次電子發(fā)射系數(shù)與入射角的關系　030
2．1．4　二次電子發(fā)射系數(shù)與入射能量的關系　030
2．1．5　二次電子發(fā)射系數(shù)與材料表面電位的關系　033
2．1．6　二次電子發(fā)射系數(shù)與表面粗糙度的關系　034
2．1．7　二次電子發(fā)射系數(shù)測試　035
2．2　光電子發(fā)射特性測試　044
2．2．1　光電效應　044
2．2．2　光電子發(fā)射　044
2．2．3　材料表面吸收率與光子波長的關系　046
2．2．4　入射光頻率對光電子產生的影響　047
2．2．5　光電子發(fā)射的影響因素　048
2．2．6　光照對尖端放電的影響　050
2．2．7　光電子發(fā)射測試　051
2．3　本征電導率特性測試　053
2．3．1　材料的本征電導率　053
2．3．2　材料電導率與表面電位的關系　054
2．3．3　電荷衰減法本征電導率測試　055
2．4　輻射誘導電導率特性測試　059
2．4．1　輻射誘導電導率的形成過程　059
2．4．2　輻射誘導電導率的分類　060
2．4．3　輻射誘導電導率測試方法　062
2．4．4　輻射誘導電導率測試　064
2．5　材料電氣特性測試　069
2．5．1　測試標準　069
2．5．2　介質材料擊穿特性　070
2．5．3　介電常數(shù)測試　076
2．5．4　介質材料介電強度特性測試　077
第3章　表面充放電效應試驗技術　079
3．1　表面充放電效應　081
3．1．1　空間帶電粒子的軌道限制理論　082
3．1．2　柴爾德朗繆爾空間電荷限制理論　083
3．1．3　真空沿面閃絡放電　084
3．1．4　不等量帶電放電　086
3．1．5　吹離放電　090
3．2　表面充放電環(huán)境及效應　092
3．2．1　LEO軌道充放電環(huán)境及效應　093
3．2．2　PEO軌道充放電環(huán)境及效應　099
3．2．3　GEO軌道充放電環(huán)境及效應　103
3．3　表面充放電效應試驗設備　112
3．4　電離層等離子體充放電效應試驗技術　119
3．4．1　電離層等離子體環(huán)境模擬　119
3．4．2　低溫等離子體測量技術　122
3．5　磁暴等離子體充放電效應試驗技術　127
3．5．1　磁暴等離子體環(huán)境模擬　127
3．5．2　表面電荷測試技術　132
3．5．3　表面電位測試技術　135
3．5．4　材料表面充放電特性測試　137
3．5．5　表面靜電放電脈沖特性測試　159
3．6　極光等離子體環(huán)境充放電效應試驗技術　168
3．6．1　極光充放電環(huán)境模擬　168
3．6．2　尾區(qū)充放電效應試驗　169
3．7　人為等離子體環(huán)境充放電效應試驗技術　172
3．7．1　人為等離子體特性測試　173
3．7．2　人為等離子體對空間等離子體環(huán)境的影響　176
3．7．3　人為等離子體對衛(wèi)星表面電位的影響　176
3．7．4　人為等離子體充放電效應試驗　177
第4章　深層介質充放電效應試驗技術　181
4．1　深層介質充放電效應　183
4．1．1　高能帶電粒子與介質材料相互作用過程　183
4．1．2　高能電子輻射下電荷沉積及電荷輸運　186
4．1．3　深層介質放電　187
4．2　深層介質充放電環(huán)境及其效應　191
4．2．1　地球輻射帶　191
4．2．2　高能電子分布特征　194
4．2．3　空間電子環(huán)境模型　197
4．3　深層介質充放電效應試驗設備　200
4．4　電子束流測量技術　203
4．4．1　法拉第筒測試技術　203
4．4．2　高能電子束流測試技術　208
4．5　介質內部電荷/電場分布測試技術　210
4．5．1　電聲脈沖法　210
4．5．2　介質內部電荷測試　211
4．6　深層介質放電脈沖特性試驗技術　217
4．6．1　懸浮導體樣品深層介質放電脈沖特性　219
4．6．2　電纜樣品深層介質放電脈沖特性試驗　222
4．6．3　FR4樣品深層介質放電試驗　224
第5章　二次放電模擬試驗技術　229
5．1　高壓太陽電池二次放電機理　233
5．1．1　太陽電池陣結構　233
5．1．2　高壓太陽電池介質材料放電　234
5．1．3　高壓太陽電池金屬放電　235
5．1．4　高壓太陽電池二次放電　236
5．2　高壓部件SADA二次放電機理　242
5．2．1　SADA高壓部件帶電特性　242
5．2．2　SADA二次放電　244
5．3　高壓太陽電池二次放電模擬試驗技術　246
5．3．1　太陽電池電流收集增強效應　246
5．3．2　太陽電池陣電流收集測試方法　247
5．3．3　太陽電池陣電流收集測試試驗　247
5．3．4　低軌道太陽電池二次放電試驗　248
5．3．5　高軌道二次放電模擬試驗　252
5．4　高能電子輻照誘發(fā)的SADA二次放電模擬試驗技術　256
5．4．1　試驗系統(tǒng)　256
5．4．2　SADA充電平衡電位測試　256
5．4．3　SADA靜電放電特性測試　258
第6章　衛(wèi)星充放電效應電磁脈沖干擾試驗技術　261
6．1　衛(wèi)星帶電放電　263
6．1．1　放電類型　263
6．1．2　放電電流脈沖　264
6．1．3　典型的空間靜電放電參數(shù)　266
6．2　放電注入模擬源　267
6．2．1　電弧放電源　267
6．2．2　容性放電源　275
6．3　空間靜電放電耦合方法　279
6．3．1　電場耦合　279
6．3．2　磁場耦合　280
6．3．3　輻射耦合　281
6．4　空間充放電效應耦合測試技術　282
6．4．1　表面靜電放電耦合測試技術　282
6．4．2　深層介質放電耦合測試技術　284
6．4．3　輻射場測試技術　290
6．4．4　單點尖端放電測試技術　290
6．4．5　結構電流測試技術　290
6．4．6　整星放電測試技術　291
6．4．7　器件級空間靜電放電測試技術　294
6．5　衛(wèi)星部件充放電效應干擾試驗　298
6．5．1　電路板放電注入試驗　298
6．5．2　電纜放電注入試驗　301
6．5．3　典型單機電路表面充放電脈沖注入試驗　302
6．5．4　深層介質放電對星內單機影響的注入試驗　306
6．5．5　深層介質放電對器件注入試驗　308
參考文獻　319
索引　333