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互換性與技術(shù)測(cè)量基礎(chǔ)

互換性與技術(shù)測(cè)量基礎(chǔ)

定　價(jià)：￥38.00

作　者： 王莉靜，郝龍，吳金文 著
出版社： 華中科技大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽： 暫缺

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ISBN： 9787568059763 出版時(shí)間： 2020-05-01 包裝： 平裝
開(kāi)本： 32開(kāi) 頁(yè)數(shù)： 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)分為9章，主要包括我國(guó)公差與配合方面的最*標(biāo)準(zhǔn)，闡述了技術(shù)測(cè)量的基本原理，主要包括緒論，測(cè)量技術(shù)基礎(chǔ)，極限與配合，幾何公差，表面粗糙度及其評(píng)定，光滑工件尺寸的檢驗(yàn)和光滑極限量規(guī)的設(shè)計(jì)，常用典型件的互換性，圓柱齒輪公差與檢測(cè)，尺寸鏈計(jì)算。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《互換性與技術(shù)測(cè)量基礎(chǔ)》作者簡(jiǎn)介

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