無(wú)損檢測(cè)儀器標(biāo)準(zhǔn)匯編（下）

定　價(jià)：￥120.00

作　者：	中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
出版社：	中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787506694551	出版時(shí)間：	2019-09-01	包裝：
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內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本匯編分上、下兩冊(cè)出版，可供無(wú)損檢測(cè)儀器相關(guān)科研院所、企業(yè)和高校的有關(guān)人員等學(xué)習(xí)使用。本卷為無(wú)損檢測(cè)儀器標(biāo)準(zhǔn)匯編（下），收集了截至2019年5月底發(fā)布的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)27項(xiàng)，行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)3項(xiàng)。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《無(wú)損檢測(cè)儀器標(biāo)準(zhǔn)匯編（下）》作者簡(jiǎn)介

圖書目錄

射線檢測(cè)儀器
GB/T 19802-2005 無(wú)損檢測(cè) 工業(yè)射線照相觀片燈最低要求
GB/T 1 9803-2005 無(wú)損檢測(cè) 射線照相像質(zhì)計(jì) 原則與標(biāo)識(shí)
GB 22448-2008 500 kV以下工業(yè)X射線探傷機(jī)防護(hù)規(guī)則
GB/T 23903-2009 射線圖像分辨力測(cè)試計(jì)
GB/T 23909．2-2009 無(wú)損檢測(cè) 射線透視檢測(cè)第2部分：成像裝置長(zhǎng)期穩(wěn)定性的校驗(yàn)
GB/T 23910-2009 無(wú)損檢測(cè) 射線照相檢測(cè)用金屬增感屏
GB/T 26592-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)X射線探傷機(jī)性能測(cè)試方法
GB/T 26593-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)用X射線CT裝置性能測(cè)試方法
GB/T 26594-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)用X射線管性能測(cè)試方法
GB/T 26595-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器周向X射線管技術(shù)條件
GB/T 26830-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器高頻恒電位工業(yè)X射線探傷機(jī)
GB/T 26833-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)用X射線管通用技術(shù)條件
GB/T 26834-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器小焦點(diǎn)及微焦點(diǎn)X射線管有效焦點(diǎn)尺寸測(cè)量方法
GB/T 26835-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)用X射線CT裝置通用技術(shù)條件
GB/T 26836-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器金屬陶瓷X射線管技術(shù)條件
GB/T 26837-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器固定式和移動(dòng)式工業(yè)X射線探傷機(jī)
GB/T 26838-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器攜帶式工業(yè)X射線探傷機(jī)
GB/T 36017-2018 無(wú)損檢測(cè)儀器 X射線熒光分析管
GB/T 36071-2018 無(wú)損檢測(cè)儀器 X射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)檢測(cè)儀技術(shù)要求
GB/T 36015-2018 無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)X射線數(shù)字成像裝置性能和檢測(cè)規(guī)則
其他無(wú)損檢測(cè)儀器
GB/T 15822．3-2005 無(wú)損檢測(cè) 磁粉檢測(cè) 第3部分：設(shè)備
GB/T 18851．4-2005 無(wú)損檢測(cè) 滲透檢測(cè) 第4部分：設(shè)備
GB/T 26832-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器鋼絲繩電磁檢測(cè)儀技術(shù)條件
GB/T 33886-2017 無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)電子內(nèi)窺鏡檢測(cè)儀
GB/T 33887-2017 無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)光纖內(nèi)窺鏡檢測(cè)儀
GB/T 33889-2017 無(wú)損檢測(cè)儀器渦流一漏磁綜合檢測(cè)儀技術(shù)規(guī)則
GB/T 35090-2018 無(wú)損檢測(cè) 管道弱磁檢測(cè)方法
JB/T 8290-2011 無(wú)損檢測(cè)儀器磁粉探傷機(jī)
JB/T 11605-2013 無(wú)損檢測(cè)儀器金屬磁記憶檢測(cè)儀技術(shù)條件
JB/T 11606-2013 無(wú)損檢測(cè)儀器金屬磁記憶檢測(cè)儀性能試驗(yàn)方法