FDI技術(shù)外溢的機制與影響因素分析

定　價：￥58.00

作　者：	許鴻文
出版社：	西安電子科技大學(xué)出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787569302141	出版時間：	2017-09-01	包裝：
開本：	16開	頁數(shù)：	184	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書共分為九章，其主要內(nèi)容包括：導(dǎo)論；梯度推移與反梯度推移發(fā)展理論視角對比；靠前外FDI技術(shù)外溢效應(yīng)研究現(xiàn)狀；產(chǎn)業(yè)內(nèi)FDI技術(shù)外溢機制的精細(xì)化區(qū)分；產(chǎn)業(yè)間FDI前、后向關(guān)聯(lián)技術(shù)溢出效應(yīng)等。