隨著面板數據模型在眾多研究領域得到廣泛應用，人們開始越來越關注面板數據的平穩(wěn)性問題，尤其在最近的20多年里，面板數據單位根檢驗研究成為國際數量經濟學界研究的熱點。然而，已有研究表明，面板數據單位根檢驗方法受諸多因素影響，因此，《面板數據單位根檢驗研究》主要從初始條件視角對現有部分較為流行的面板數據單位根檢驗方法進行研究分析?！睹姘鍞祿挝桓鶛z驗研究》在梳理、總結已有的面板數據單位根檢驗以及初始條件對面板數據單位根檢驗的影響的研究文獻的優(yōu)點與不足的基礎上，做了進一步的研究工作。具體地，先分析了初始條件是如何影響面板數據單位根LLC檢驗的，并對面板數據單位根IPS檢驗功效是否會受初始條件的影響進行了探討；接下來針對面板數據單位根LLC與IPS檢驗的不足之處，基于個體似然比檢驗統(tǒng)計量提出了面板數據單位根似然比（LR）檢驗，并考察了初始條件是否會影響面板數據單位根似然比LR檢驗的功效。此外，在分析了初始條件對面板數據單位根檢驗勢的影響之后，也考慮了初始條件是否會影響面板數據單位根檢驗水平?！睹姘鍞祿挝桓鶛z驗研究》的研究工作以理論性質的探討為主，主要應用了數理推導和隨機實驗模擬兩種研究手段，分別考慮不同情形下所對應的漸近性質和有限樣本下的檢驗勢和檢驗水平，得出若干具有理論意義的結論。
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