太赫茲光電測(cè)試技術(shù)

定　價(jià)：￥278.00

作　者：	曹俊誠(chéng) 著
出版社：	華東理工大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787562861027	出版時(shí)間：	2020-11-01	包裝：	精裝
開(kāi)本：	16	頁(yè)數(shù)：	272	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)主要從太赫茲輻射源、探測(cè)器及相關(guān)測(cè)試技術(shù)出發(fā)，介紹了太赫茲頻段輻射源、探測(cè)器及探測(cè)技術(shù)的基本概念和特點(diǎn)，闡述了太赫茲光電測(cè)試技術(shù)中所涉及的基本理論、測(cè)試原理與方法、測(cè)試系統(tǒng)組成和主要技術(shù)特點(diǎn)，以及太赫茲光電測(cè)試技術(shù)在光電器件標(biāo)定、光路校準(zhǔn)、成像系統(tǒng)與信號(hào)傳輸系統(tǒng)中的應(yīng)用。希望通過(guò)對(duì)太赫茲頻段光電測(cè)試技術(shù)的歸納和總結(jié)，促進(jìn)太赫茲技術(shù)在物理學(xué)、材料學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、公共安全和信息技術(shù)等領(lǐng)域的應(yīng)用與發(fā)展。本書(shū)可作為太赫茲領(lǐng)域科研人員和相關(guān)學(xué)科研究生的參考書(shū)和工具書(shū)，亦可供有關(guān)工程技術(shù)人員參考。

作者簡(jiǎn)介

　　譚智勇，中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所研究員，碩士生導(dǎo)師。主要從事太赫茲光電技術(shù)和低溫技術(shù)領(lǐng)域的研究工作，在太赫茲光電測(cè)試與表征、太赫茲器件模塊與應(yīng)用方面取得多項(xiàng)創(chuàng)新性成果。在IEEE PTL、APL、ASS和EL等期刊發(fā)表了SCI論文30余篇，獲得授權(quán)發(fā)明專(zhuān)利8項(xiàng)（含2項(xiàng)美國(guó)專(zhuān)利）、實(shí)用新型專(zhuān)利3項(xiàng)，在國(guó)內(nèi)外學(xué)術(shù)會(huì)議做邀請(qǐng)報(bào)告5次。2010年獲上海市優(yōu)秀畢業(yè)生榮譽(yù)稱(chēng)號(hào)，先后擔(dān)任中科院“十二五”太赫茲科技規(guī)劃組秘書(shū)。作為項(xiàng)目負(fù)責(zé)人承擔(dān)科技部?jī)x器專(zhuān)項(xiàng)任務(wù)，基金委面上項(xiàng)目、青年項(xiàng)目以及上海市自然科學(xué)基金項(xiàng)目等。曹俊誠(chéng)教授：中科院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所研究員，博士生導(dǎo)師，國(guó)家杰出青年基金獲得者、中科院“百人計(jì)劃”入選者、國(guó)務(wù)院政府特殊津貼獲得者、國(guó)家科技部重大儀器專(zhuān)項(xiàng)首席科學(xué)家、上海市優(yōu)秀學(xué)科帶頭人計(jì)劃入選者、上海市自然科學(xué)牡丹獎(jiǎng)獲得者、 “中國(guó)科學(xué)院優(yōu)秀教師”稱(chēng)號(hào)獲得者。主要從事太赫茲物理、器件及太赫茲通信與成像應(yīng)用等方面的研究工作，研制出太赫茲量子級(jí)聯(lián)激光器和量子阱探測(cè)器，并實(shí)現(xiàn)了太赫茲實(shí)時(shí)音頻和視頻傳輸驗(yàn)證。

圖書(shū)目錄

0 緒論 001
1 太赫茲輻射體與探測(cè)器件 005
1.1 引言 007
1.2 太赫茲頻段的輻射度學(xué) 007
1.2.1 基本物理量 007
1.2.2 基本定律 009
1.2.3 太赫茲輻射在大氣中的傳播 017
1.3 太赫茲輻射體 020
1.3.1 基本性能參數(shù) 020
1.3.2 太赫茲輻射源 021
1.4 太赫茲探測(cè)器件 029
1.4.1 基本性能參數(shù) 030
1.4.2 熱探測(cè)器 036
1.4.3 光子型探測(cè)器 041
1.4.4 多像元探測(cè)器 044
1.5 太赫茲探測(cè)技術(shù) 046
1.5.1 直接探測(cè)技術(shù) 046
1.5.2 相干探測(cè)技術(shù) 047
1.5.3 微弱信號(hào)探測(cè)技術(shù) 047
1.5.4 雷達(dá)技術(shù) 048
1.5.5 高速探測(cè)技術(shù) 048
1.5.6 信號(hào)同步技術(shù) 049
1.6 小結(jié) 051
參考文獻(xiàn) 051
2 太赫茲光電測(cè)試中的真空與低溫技術(shù) 055
2.1 引言 057
2.2 真空技術(shù) 057
2.2.1 真空概述 057
2.2.2 真空的測(cè)量 060
2.2.3 真空泵 061
2.2.4 真空附件 063
2.2.5 真空檢漏技術(shù) 065
2.2.6 太赫茲光電測(cè)試中的真空 068
2.3 低溫技術(shù) 071
2.3.1 低溫概述 071
2.3.2 冷質(zhì)與冷量 073
2.3.3 低溫的測(cè)量 073
2.3.4 制冷方式與裝置 074
2.3.5 太赫茲光電測(cè)試中的低溫 081
2.4 小結(jié) 083
參考文獻(xiàn) 084
3 太赫茲光學(xué)元件與光電器件表征技術(shù) 085
3.1 引言 087
3.2 光學(xué)元件 087
3.2.1 太赫茲窗片 088
3.2.2 太赫茲透鏡 089
3.2.3 太赫茲反射鏡 090
3.2.4 太赫茲波片 093
3.2.5 太赫茲偏振片 093
3.2.6 太赫茲濾光片 094
3.2.7 光學(xué)元件特性測(cè)試 096
3.3 太赫茲激光耦合與光路校準(zhǔn) 096
3.3.1 光束耦合技術(shù) 096
3.3.2 光路校準(zhǔn)技術(shù) 102
3.4 太赫茲激光器測(cè)試技術(shù) 104
3.4.1 電流電壓特性 104
3.4.2 激光頻率 106
3.4.3 激光功率 107
3.4.4 工作溫度 113
3.4.5 激光偏振 114
3.4.6 光束測(cè)量技術(shù) 115
3.4.7 穩(wěn)定性與可靠性 117
3.5 太赫茲光探測(cè)器測(cè)試技術(shù) 128
3.5.1 電流電壓特性 128
3.5.2 光響應(yīng)譜 132
3.5.3 峰值響應(yīng)率 134
3.5.4 噪聲等效功率 137
3.5.5 比探測(cè)率 139
3.5.6 響應(yīng)速度 139
3.5.7 偏振選擇性 140
3.6 小結(jié) 142
參考文獻(xiàn) 142
4 太赫茲光譜測(cè)量技術(shù) 145
4.1 引言 147
4.2 傅里葉變換光譜技術(shù) 147
4.2.1 傅里葉變換光譜儀原理 148
4.2.2 光譜儀的主要部件 152
4.2.3 透/反射譜測(cè)量技術(shù) 158
4.2.4 時(shí)間分辨光譜測(cè)量技術(shù) 164
4.2.5 器件光譜測(cè)量技術(shù) 166
4.3 太赫茲時(shí)域譜技術(shù) 167
4.3.1 工作原理 168
4.3.2 技術(shù)特點(diǎn)與測(cè)量舉例 168
4.3.3 泵浦探測(cè)技術(shù) 170
4.4 太赫茲頻域譜技術(shù) 174
4.4.1 工作原理 175
4.4.2 技術(shù)特點(diǎn)與測(cè)量舉例 176
4.5 小結(jié) 178
參考文獻(xiàn) 178
5 基于太赫茲量子器件的測(cè)試技術(shù)及應(yīng)用 181
5.1 引言 183
5.2 基于太赫茲量子器件的光電測(cè)試技術(shù) 183
5.2.1 脈沖太赫茲激光測(cè)量 184
5.2.2 基于單頻光源的響應(yīng)率標(biāo)定 188
5.2.3 太赫茲陣列探測(cè)器標(biāo)定 191
5.2.4 太赫茲空芯光纖損耗測(cè)量 195
5.2.5 太赫茲偏振光的測(cè)量與轉(zhuǎn)換 198
5.2.6 表征技術(shù)的改進(jìn) 204
5.3 基于太赫茲量子器件的成像技術(shù) 208
5.3.1 掃描成像技術(shù) 208
5.3.2 實(shí)時(shí)成像技術(shù) 218
5.3.3 成像技術(shù)的應(yīng)用 222
5.4 基于太赫茲量子器件的無(wú)線(xiàn)通信技術(shù) 229
5.4.1 太赫茲激光的傳輸 229
5.4.2 太赫茲信號(hào)的調(diào)制與解調(diào) 230
5.4.3 太赫茲通信演示 235
5.4.4 器件通信性能的改進(jìn) 244
5.5 小結(jié) 247
參考文獻(xiàn) 247
索引 250