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公差配合與技術測量

公差配合與技術測量

定 價:¥59.00

作 者: 張靜,張明,方春慧 編
出版社: 北京理工大學出版社
叢編項:
標 簽: 暫缺

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ISBN: 9787568287173 出版時間: 2020-08-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁數: 190 字數:  

內容簡介

  《公差配合與技術測量》系統地介紹了公差配合與技術測量方面的基礎知識,全書共分6個項目,并以情境任務的形式進行講解,通俗易懂,實用性強,主要內容包括:緒論、公差與配合、測量技術基礎與光滑尺寸檢測、幾何公差及檢測、表面粗糙度的檢測、常用結構件的公差配合與檢測。該書采用新國家標準,側重于基本概念的講解與常用測量方法和測量工具的運用,內容簡明扼要、通俗易懂。在編排上,該書注重理論與實踐相結合,采用項目化教學模式,通過實際情境引出學習內容,每個項目分為若干任務,每個任務由任務描述與要求、任務知識準備、任務實施組成,正文中還設置了小提示、知識鏈接等特色模塊,意在提高學生的學習興趣?!豆钆浜吓c技術測量》可作為高等院校機械類和近機類各專業(yè)的教學用書,也可作為從事機械設計與制造、標準化、計量測試等工程技術人員的參考用書。

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