光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)評價(jià)與檢測

定　價(jià)：￥68.00

作　者：	李林，林家明著
出版社：	北京理工大學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：	國之重器出版工程
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787568289467	出版時(shí)間：	2020-08-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	194	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書系統(tǒng)地介紹了光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)評價(jià)方法以及光學(xué)測量的主要知識。全書內(nèi)容可以分為兩個部分：第一部分是光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)評價(jià)，介紹了光學(xué)系統(tǒng)的像質(zhì)評價(jià)各種指標(biāo)以及在光學(xué)設(shè)計(jì)軟件Zemax中的具體應(yīng)用；第二部分是光學(xué)測量，介紹了光學(xué)測量中的對準(zhǔn)與調(diào)焦技術(shù)、焦距測量、星點(diǎn)檢驗(yàn)、分辨率測量等基本光學(xué)測量技術(shù)，測角技術(shù)、準(zhǔn)直自準(zhǔn)直技術(shù)及干涉測量等內(nèi)容。本書是信息技術(shù)、光學(xué)工程、測控技術(shù)與儀器等專業(yè)本科生的專業(yè)課教材，也可作為相關(guān)專業(yè)研究生教材及從事光電儀器設(shè)計(jì)和研制的專業(yè)人員的參考書。

作者簡介

　　李林，男，北京理工大學(xué)教授，博士生導(dǎo)師。主要研究方向?yàn)楣鈱W(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)、光電儀器設(shè)計(jì)、紅外仿真、空間光學(xué)與照明光學(xué)?？傃b備部重大專項(xiàng)專家組成員，中央軍委科技委重點(diǎn)項(xiàng)目專家組成員，戰(zhàn)略支援部隊(duì)航空專家組成員，全國高等學(xué)校光學(xué)教學(xué)研究會副理事長，中國照明學(xué)會理事，交通運(yùn)輸照明和光信號專業(yè)委員會副主任，中國宇航學(xué)會光電專委會委員，全國光學(xué)和光學(xué)儀器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會委員，中國兵工學(xué)會光學(xué)專委會委員。主持或參與完成了多個863、973項(xiàng)目及數(shù)十個國家及省部級項(xiàng)目，近年來，共獲得了6次部委級科研獎勵，其中一等獎1次，二等獎1次，三等獎4次。出版了包括國家規(guī)劃教材、國家規(guī)劃專著、國家出版基金、北京市精品教材等在內(nèi)的11本教材及專著。獲評國家精品視頻公開課及國家精品在線開放課程。

圖書目錄

第 1章光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)評價(jià)方法001
1．1 概述002
1．2 光學(xué)系統(tǒng)的坐標(biāo)系統(tǒng)、結(jié)構(gòu)參數(shù)和特性參數(shù)003
1．3 檢測階段的像質(zhì)評價(jià)指標(biāo)——星點(diǎn)檢驗(yàn)009
1．4 檢測階段的像質(zhì)評價(jià)指標(biāo)——分辨率測量013
1．5 幾何像差的定義及其計(jì)算017
1．6 垂軸像差的概念及其計(jì)算024
1．7 幾何像差計(jì)算程序ABR的輸入數(shù)據(jù)與輸出結(jié)果026
1．8 幾何像差及垂軸像差的圖形輸出031
1．9 用波像差評價(jià)光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量036
1．10 光學(xué)傳遞函數(shù)037
1．11 點(diǎn)列圖045
1．12 包圍圓能量046
第 2章 Zemax光學(xué)設(shè)計(jì)軟件應(yīng)用047
2．1 概述048
2．2 Zemax的用戶界面050
2．3 Zemax基本操作056
2．4 Zemax使用實(shí)例069
2．5 利用Zemax軟件進(jìn)行光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量評價(jià)075
第3章基本光學(xué)測量技術(shù)087
3．1 光學(xué)測量中的對準(zhǔn)與調(diào)焦技術(shù)088
3．1．1 人眼的對準(zhǔn)誤差和調(diào)焦誤差089
3．1．2 望遠(yuǎn)鏡和顯微鏡的對準(zhǔn)誤差與調(diào)焦誤差092
3．2 光學(xué)測試裝置的基本部件及其組合099
3．2．1 平行光管099
3．2．2 自準(zhǔn)直目鏡101
3．2．3 目鏡測微器103
3．2．4 由基本部件組合成的光學(xué)測試裝置105
3．3 焦距和頂焦距的測量105
3．3．1 測量原理106
3．3．2 用GXY 08A型光具座測量的測試技術(shù)107
3．3．3 測量不確度109
3．3．4 焦距的光電法測量110
3．4 星點(diǎn)檢驗(yàn)116
3．4．1 原理116
3．4．2 衍射受限系統(tǒng)星點(diǎn)像的光強(qiáng)分布117
3．4．3 檢驗(yàn)條件121
3．5 分辨率測量124
3．5．1 衍射受限系統(tǒng)的分辨率125
3．5．2 測量方法128
第4章測角技術(shù)133
4．1 光學(xué)測量用的精密測角儀134
4．1．1 精密測角儀概述134
4．1．2 JC 1型精密測角儀工作原理135
4．1．3 JC 1型精密測角儀的單元技術(shù)136
4．1．4 用于日常工作的測角儀器138
4．2 測角技術(shù)的應(yīng)用139
4．2．1 在精密測角儀上測量棱鏡的角度139
4．2．2 光學(xué)玻璃折射率的測量140
4．2．3 精密測角法測量物鏡焦距145
4．2．4 自聚焦透鏡數(shù)值孔徑測量148
4．2．5 高精度測量光學(xué)角規(guī)偏向角151
第5章準(zhǔn)直與自準(zhǔn)直技術(shù)155
5．1 激光束的準(zhǔn)直與自準(zhǔn)直技術(shù)156
5．2 自準(zhǔn)直法測量平面光學(xué)零件光學(xué)平行度161
5．2．1 概述161
5．2．2 測量光學(xué)平行度的一般原理161
5．2．3 反射棱鏡光學(xué)平行度的測量162
5．3 自準(zhǔn)直法測量球面曲率半徑164
第6章干涉測量171
6．1 干涉測量基礎(chǔ)172
6．2 泰曼干涉測量和菲索干涉測量175
6．2．1 泰曼干涉測量175
6．2．2 菲索干涉測量181
6．3 移相干涉測量186
6．3．1 移相干涉測量的基本技術(shù)186
6．3．2 移相干涉測量的儀器190
參考文獻(xiàn)193