含特殊整流罩的共形光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)、加工和檢測

第1章 共形光學(xué)系統(tǒng)概述
1．1 共形光學(xué)的概念
1．1．1 共形光學(xué)應(yīng)用背景
1．1．2 共形光學(xué)的概念及性質(zhì)
1．2 共形光學(xué)的發(fā)展現(xiàn)狀
1．2．1 共形光學(xué)研究現(xiàn)狀
1．2．2 共形光學(xué)應(yīng)用現(xiàn)狀
1．3 共形光學(xué)的難題
1．3．1 設(shè)計(jì)難題
1．3．2 制造難題
1．3．3 檢測難題
參考文獻(xiàn)
第2章 共形整流罩的設(shè)計(jì)方法
2．1 共形整流罩概述
2．1．1 共形光學(xué)系統(tǒng)參數(shù)和定義
2．1．2 共形光學(xué)系統(tǒng)面型選擇
2．1．3 橢球形整流罩的數(shù)學(xué)特性
2．1．4 整流罩空氣動(dòng)力學(xué)分析
2．1．5 整流罩長徑比的選擇
2．1．6 紅外探測距離分析
2．1．7 整流罩材料的選擇
2．1．8 實(shí)現(xiàn)共形整流罩視場掃描的機(jī)械結(jié)構(gòu)
2．2 傳統(tǒng)球形整流罩的像差特性
2．3 共形整流罩的像差特性
2．3．1 掃描視場對(duì)共形整流罩像差的影響
2．3．2 長徑比對(duì)共形整流罩像差的影響
2．3．3 厚度對(duì)共形整流罩像差的影響
2．3．4 拋物面、尖拱面、圓錐面整流罩的像差特性
2．3．5 萬向節(jié)連軸器位置對(duì)共形整流罩像差的影響
2．3．6 澤尼克像差系數(shù)表達(dá)式
2．4 共形光學(xué)系統(tǒng)的像差校正器
2．4．1 固定校正器
2．4．2 弓形校正器
2．4．3 澤尼克光楔校正器
2．4．4 可變形反射鏡校正器
2．5 W-W微分方程組校正彗差
2．5．1 W-W非球面設(shè)計(jì)方法
2．5．2 光線定義方法
2．5．3 W-W微分方程組
2．5．4 龍格-庫塔積分迭代法
2．5．5 固定校正器算法實(shí)現(xiàn)
2．5．6 設(shè)計(jì)實(shí)例與討論
2．6 W-W非球面方程組的改進(jìn)
2．6．1 W-W方程組的設(shè)計(jì)思路
2．6．2 一般化非球面設(shè)計(jì)公式的推導(dǎo)
2．6．3 孔徑光線抽樣方法
2．6．4 設(shè)計(jì)實(shí)例與討論
參考文獻(xiàn)
第3章 含同軸整流罩的共形光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法
3．1 凝視光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方法
3．1．1 紅外凝視成像系統(tǒng)
3．1．2 大視場、大長徑比凝視系統(tǒng)設(shè)計(jì)
3．2 掃描光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法
3．2．1 旋轉(zhuǎn)光楔掃描光學(xué)系統(tǒng)
3．2．2 雙光楔掃描光學(xué)系統(tǒng)
3．2．3 超廣角掃描光學(xué)系統(tǒng)
3．3 步進(jìn)變焦距共形光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法
3．3．1 步進(jìn)變焦系統(tǒng)成像基本原理
3．3．2 步進(jìn)變焦系統(tǒng)設(shè)計(jì)要求及系統(tǒng)參數(shù)
3．4 雙波段二次曲面固定校正板系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法
3．4．1 可見光光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
3．4．2 紅外光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
3．4．3 雙波段共形光學(xué)系統(tǒng)組合
3．5 共形雙模光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法
3．5．1 共形雙模光學(xué)系統(tǒng)成像原理
3．5．2 共形雙模光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
參考文獻(xiàn)
第4章 含離軸整流罩共形光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方法
4．1 偏心傾斜光學(xué)系統(tǒng)像差理論
4．2 整流罩建模與像差特性分析
4．2．1 整流罩建模
4．2．2 偏心整流罩像差分析
4．2．3 傾斜整流罩像差分析
4．2．4 離軸舷窗像差分析
4．3 偏心傾斜光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法
4．3．1 偏心整流罩光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
4．3．2 傾斜整流罩光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
4．3．3 離軸舷窗像差校正
4．4 機(jī)載擺鏡掃描紅外光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法
4．4．1 機(jī)載紅外成像系統(tǒng)介紹
4．4．2 系統(tǒng)參數(shù)及設(shè)計(jì)方法
4．4．3 系統(tǒng)像質(zhì)評(píng)價(jià)
4．5 機(jī)載轉(zhuǎn)鼓式掃描紅外光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法
4．5．1 系統(tǒng)參數(shù)及設(shè)計(jì)方法
4．5．2 系統(tǒng)像質(zhì)評(píng)價(jià)
參考文獻(xiàn)
第5章 共形光學(xué)系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)像差校正
5．1 共形整流罩耦合場有限元分析數(shù)值計(jì)算
5．1．1 流固耦合有限元分析方法
5．1．2 熱固耦合有限元分析方法
5．1．3 熱流固耦合有限元分析方法
5．2 共形整流罩有限元分析
5．2．1 共形整流罩有限元分析流程
5．2．2 共形整流罩以及工作環(huán)境網(wǎng)格劃分
5．2．3 共形整流罩超音速飛行分析
5．3 共形整流罩表面形變分析
5．3．1 共形整流罩表面熱變形分析
5．3．2 共形整流罩面型變化量澤尼克像差系數(shù)轉(zhuǎn)換
5．4 空間光調(diào)制器校正共形光學(xué)系統(tǒng)動(dòng)態(tài)像差
5．4．1 累斯萊光楔對(duì)掃描動(dòng)態(tài)像差校正系統(tǒng)
5．4．2 空間光調(diào)制器對(duì)動(dòng)態(tài)熱像差的校正
5．4．3 空間光調(diào)制器誤差容差分析
5．5 基于仿生小凹原理校正共形光學(xué)系統(tǒng)動(dòng)態(tài)像差
5．5．1 仿生小凹成像理論
5．5．2 仿生小凹波像差理論
5．5．3 變形鏡實(shí)現(xiàn)小凹仿生動(dòng)態(tài)像差的校正
參考文獻(xiàn)
第6章 共形整流罩的加工與檢測
6．1 共形整流罩的加工技術(shù)
6．1．1 共形整流罩加工概況
6．1．2 共形整流罩加工過程
6．1．3 共形整流罩精密磨削
6．1．4 磁流變拋光技術(shù)
6．2 傳統(tǒng)非球面檢測技術(shù)
6．2．1 輪廓測量法
6．2．2 激光掃描法
6．2．3 陰影法
6．2．4 干涉測量法
6．3 共形光學(xué)系統(tǒng)零位補(bǔ)償檢測技術(shù)
6．3．1 補(bǔ)償器的類型
6．3．2 零位補(bǔ)償檢測系統(tǒng)結(jié)構(gòu)參數(shù)計(jì)算
6．3．3 設(shè)計(jì)實(shí)例結(jié)果與分析
6．4 共形光學(xué)系統(tǒng)子孔徑拼接檢測技術(shù)
6．4．1 子孔徑的劃分
6．4．2 中心區(qū)域檢測系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
6．4．3 環(huán)形區(qū)域檢測系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
6．5 國內(nèi)共形光學(xué)系統(tǒng)樣機(jī)
參考文獻(xiàn)
索引