電子顯微學中的辯證法：掃描電鏡的操作與分析

定　價：￥69.80

作　者：	林中清，李文雄，張希文著
出版社：	人民郵電出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787115580221	出版時間：	2022-03-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數：	193	字數：

內容簡介

　　本書以自然辯證法的三大規(guī)律為指導思想來論述掃描電鏡的基本原理，通過充分且翔實的實例向讀者介紹掃描電鏡的基本操作規(guī)程、測試條件的合理選擇、疑難問題的成因和合適的應對策略。此外，本書還就測試過程中出現的各種表象，通過改變測試條件，對其進行細致且深入的分析，幫助讀者系統地認識掃描電鏡，正確掌握掃描電鏡的操作技巧和分析問題、解決問題的方法。本書在理論探討上力求簡單明了，在實戰(zhàn)操作上做到翔實充分，適合各大院校、科研院所相關專業(yè)的學生，相關企業(yè)的研發(fā)人員，以及掃描電鏡領域的從業(yè)人員參考閱讀。

作者簡介

　　林中清1987年入職安徽大學現代實驗技術中心，從事掃描電鏡管理及測試工作。1989年開始管理中科院上海光學精密機械研究所的DX-10掃描電鏡，2009年開始管理日立S-4800冷場發(fā)射掃描電鏡。長期的掃描電鏡操作經歷，讓他逐漸形成對掃描電鏡的新認識，建立起特有的理論體系，并在大量的實踐中，發(fā)現新的測試現象。此外，他還能夠對復雜樣品的測試提供相應的解決方案，逐步在業(yè)界建立起聲望。2011年在利用Photoshop對掃描電鏡圖片進行偽彩處理方面取得一些成績，他的顯微攝影作品分別被《中國衛(wèi)生影像》《科學畫報》《中國國家地理》等雜志收錄，并在顯微攝影大賽中多次獲獎。李文雄2005年進入電子顯微鏡行業(yè)，曾任職于基恩士，后擔任蔡司顯微鏡華南區(qū)經理，與中山大學、華南理工大學、廈門大學建立了良好的合作關系。現任日立科學儀器（北京）有限公司北京辦事處總經理。從業(yè)以來，努力將碎片化的管理經驗進行系統化梳理，現就讀于中國人民大學商學院EMBA，擔任中國人民大學商學院EMBA北京校友會副秘書長。張希文2012年加入日立高新先端分析裝置部，負責日立電子顯微鏡的售后服務工作，并于同年被派往日立電子顯微鏡生產工廠學習。先后負責日立電子顯微鏡的售后、售前技術支持工作。任職期間為國內電鏡從業(yè)者提供多次現場培訓，幫助從業(yè)者提升專業(yè)知識，并獲得多種產品的維修技術認證。此外，還開拓了聚焦離子束電鏡等新型號產品的市場，并獲得公司本部長獎項。

圖書目錄

第 1 章　掃描電鏡的定義及其工作原理 1
1．1　掃描電鏡的定義 1
1．1．1　顯微鏡與電子顯微鏡 1
1．1．2　掃描電鏡與透射電鏡 2
1．2　掃描電鏡的組成及其工作原理 5
1．2．1　掃描電鏡的結構及功能 6
1．2．2　掃描電鏡的工作原理 27
第 2 章　掃描電鏡的相關理論知識 29
2．1 掃描電鏡的信息源 29
2．1．1　物質的組成 30
2．1．2　高能電子束對樣品信息的激發(fā) 32
2．2 放大倍率 40
2．3 分辨力 42
2．4 掃描電鏡的圖像襯度和表面形貌像的形成 46
2．4．1　形貌襯度 47
2．4．2　二次電子襯度和邊緣效應 58
2．4．3　電位襯度 62
2．4．4　Z 襯度 65
2．4．5　晶粒取向襯度 69
2．5　掃描電鏡圖像的清晰度和辨析度 71
2．5．1　圖像襯度與清晰度的關系 73
2．5．2　圖像的放大倍率與辨析度的關系 75
2．5．3　圖像的放大倍率與清晰度的關系 75
2．5．4　圖像辨析度與清晰度的辯證關系 77
2．5．5　實例的展示及探討 79
2．5．6　總結 86
第 3 章　掃描電鏡測試面臨的幾個問題 89
3．1　樣品的荷電現象 89
3．1．1　荷電現象的成因 91
3．1．2　荷電現象的 3 種表現形式 94
3．1．3　加速電壓和束流強度對樣品荷電現象的影響 99
3．1．4　如何應對樣品的荷電現象 105
3．1．5　總結 114
3．2　樣品熱損傷的成因及應對方法 116
3．2．1　樣品熱損傷的成因 116
3．2．2　如何應對樣品熱損傷 120
3．3　磁性材料的測試方案 123
3．3．1　什么是磁性材料 124
3．3．2　電磁透鏡對各種磁性材料的影響 126
3．3．3　如何判斷樣品的磁特性 128
3．3．4　如何對磁性較強的樣品進行測試 129
3．3．5　使用半內透鏡物鏡測試磁性樣品的實例 130
3．3．6　總結 131
3．4　碳污染及其應對 133
3．4．1　碳污染的成因 133
3．4．2　碳污染的應對 134
第 4 章　掃描電鏡的操作要領及測試條件的選擇 139
4．1　掃描電鏡的操作要領 139
4．1．1　對中 139
4．1．2　消像散 141
4．1．3　對焦 142
4．1．4　調整亮度和對比度 142
4．1．5　調整位置的選擇 144
4．2　掃描電鏡工作距離和探頭的選擇 145
4．2．1　工作距離和探頭的選擇與形貌襯度的形成 146
4．2．2　不同工作距離與探頭組合的優(yōu)缺點 160
4．2．3　不同工作距離與探頭組合的成像結果對比 161
4．3　掃描電鏡的加速電壓與束流強度的選擇 175
4．3．1　加速電壓與分辨力的關系 176
4．3．2　加速電壓與樣品中信息分布的關系 178
4．3．3　加速電壓對形貌像荷電現象的影響 181
4．3．4　束流強度的選擇 182
4．3．5　電子槍本征亮度對加速電壓和束流強度選擇的影響 186
附錄　本書中與掃描電鏡相關的概念及其說明 189
后記193