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內(nèi)容簡介

　　材料現(xiàn)代研究方法是關(guān)于材料分析測試理論及技術(shù)的一門課程，內(nèi)容包括X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微鏡和電子探針顯微分析、電子衍射分析、熱分析及振動光譜等。由于篇幅所限，光學顯微分析、核磁共振光譜分析等內(nèi)容暫未編入。各章節(jié)內(nèi)容均由活躍在材料科學領(lǐng)域第一線的從事科研和研究生教學的教師編寫，參考了國內(nèi)外一些材料研究與測試方面的專著、教材和學術(shù)期刊。在編寫過程中，以基礎(chǔ)理論為主線，以測試原理、儀器結(jié)構(gòu)、測試要求介紹及實例分析為支撐，著重于將抽象的理論與實際的測試結(jié)果關(guān)聯(lián)起來，學以致用，以提高學生對實驗結(jié)果的總結(jié)和分析能力，鍛煉學生的科學研究和工程實踐能力。《材料現(xiàn)代研究與測試技術(shù)》可作為高等院校材料科學與工程專業(yè)、相關(guān)學科本科生及碩士研究生的教材使用，亦可供從事材料研究和開發(fā)的科技工作者和相關(guān)工程技術(shù)人員參考。

作者簡介

暫缺《材料現(xiàn)代研究與測試技術(shù)》作者簡介

圖書目錄

1 緒論
1．1 材料研究的意義
1．2 材料結(jié)構(gòu)和研究內(nèi)容
1．3 現(xiàn)代分析技術(shù)與常規(guī)研究方法的不同
1．4 材料現(xiàn)代研究的基本原理
2 衍射的晶體幾何學基礎(chǔ)
2．1 晶體結(jié)構(gòu)和點陣結(jié)構(gòu)
2．2 點陣與點陣結(jié)構(gòu)
2．3 晶體的對稱性
2．4 點陣方向和點陣平面
2．5 晶體結(jié)構(gòu)
2．6 點群和空間群的國際符號
2．7 倒易點陣
習題與思考題
3 X射線衍射分析
3．1 X射線的產(chǎn)生與性質(zhì)
3．2 X射線衍射的幾何原理
3．3 X射線束的強度
3．4 X射線衍射的實驗方法
3．5 衍射儀法
3．6 X射線衍射技術(shù)的應用
習題與思考題
4 透射電子顯微分析
4．1 電子顯微分析基礎(chǔ)
4．2 透射電子顯微鏡
4．3 電子衍射
4．4 透射電鏡圖像襯度
4．5 透射電鏡的樣品制備
習題與思考題
5 掃描電子顯微鏡與電子探針
5．1 概述
5．2 掃描電子顯微鏡結(jié)構(gòu)和成像原理
5．3 掃描電鏡的試樣制備和應用
5．4 電子探針的工作原理與結(jié)構(gòu)
5．5 場發(fā)射掃描電子顯微鏡
習題與思考題
6 紅外吸收光譜分析
6．1 概述
6．2 基本原理
6．3 紅外光譜圖的解析
6．4 紅外光譜儀的種類及工作原理
6．5 紅外光譜實驗技術(shù)
6．6 一些常見無機化合物紅外光譜示例
習題與思考題
7 熱分析技術(shù)
7．1 概述
7．2 差熱分析
7．3 差示掃描量熱法
7．4 熱重分析
7．5 熱分析儀器的發(fā)展趨勢
7．6 綜合熱分析在工程實踐中的應用
習題與思考題
參考文獻