材料現(xiàn)代研究與測試技術(shù)

定　價：￥85.00

作　者：	劉向春，王志華著
出版社：	中國建材工業(yè)出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787516034064	出版時間：	2022-05-01	包裝：
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內(nèi)容簡介

　　材料現(xiàn)代研究方法是關于材料分析測試理論及技術(shù)的一門課程，內(nèi)容包括X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微鏡和電子探針顯微分析、電子衍射分析、熱分析及振動光譜等。由于篇幅所限，光學顯微分析、核磁共振光譜分析等內(nèi)容暫未編入。各章節(jié)內(nèi)容均由活躍在材料科學領域第一線的從事科研和研究生教學的教師編寫，參考了國內(nèi)外一些材料研究與測試方面的專著、教材和學術(shù)期刊。在編寫過程中，以基礎理論為主線，以測試原理、儀器結(jié)構(gòu)、測試要求介紹及實例分析為支撐，著重于將抽象的理論與實際的測試結(jié)果關聯(lián)起來，學以致用，以提高學生對實驗結(jié)果的總結(jié)和分析能力，鍛煉學生的科學研究和工程實踐能力?！恫牧犀F(xiàn)代研究與測試技術(shù)》可作為高等院校材料科學與工程專業(yè)、相關學科本科生及碩士研究生的教材使用，亦可供從事材料研究和開發(fā)的科技工作者和相關工程技術(shù)人員參考。

作者簡介

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圖書目錄

1 緒論
1．1 材料研究的意義
1．2 材料結(jié)構(gòu)和研究內(nèi)容
1．3 現(xiàn)代分析技術(shù)與常規(guī)研究方法的不同
1．4 材料現(xiàn)代研究的基本原理
2 衍射的晶體幾何學基礎
2．1 晶體結(jié)構(gòu)和點陣結(jié)構(gòu)
2．2 點陣與點陣結(jié)構(gòu)
2．3 晶體的對稱性
2．4 點陣方向和點陣平面
2．5 晶體結(jié)構(gòu)
2．6 點群和空間群的國際符號
2．7 倒易點陣
習題與思考題
3 X射線衍射分析
3．1 X射線的產(chǎn)生與性質(zhì)
3．2 X射線衍射的幾何原理
3．3 X射線束的強度
3．4 X射線衍射的實驗方法
3．5 衍射儀法
3．6 X射線衍射技術(shù)的應用
習題與思考題
4 透射電子顯微分析
4．1 電子顯微分析基礎
4．2 透射電子顯微鏡
4．3 電子衍射
4．4 透射電鏡圖像襯度
4．5 透射電鏡的樣品制備
習題與思考題
5 掃描電子顯微鏡與電子探針
5．1 概述
5．2 掃描電子顯微鏡結(jié)構(gòu)和成像原理
5．3 掃描電鏡的試樣制備和應用
5．4 電子探針的工作原理與結(jié)構(gòu)
5．5 場發(fā)射掃描電子顯微鏡
習題與思考題
6 紅外吸收光譜分析
6．1 概述
6．2 基本原理
6．3 紅外光譜圖的解析
6．4 紅外光譜儀的種類及工作原理
6．5 紅外光譜實驗技術(shù)
6．6 一些常見無機化合物紅外光譜示例
習題與思考題
7 熱分析技術(shù)
7．1 概述
7．2 差熱分析
7．3 差示掃描量熱法
7．4 熱重分析
7．5 熱分析儀器的發(fā)展趨勢
7．6 綜合熱分析在工程實踐中的應用
習題與思考題
參考文獻