近代物理實驗指導

1 量子理論基礎(chǔ)實驗
1.1 黑體輻射實驗
1.1.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
1.1.2 簡要原理
1.1.3 實驗設(shè)備介紹
1.1.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.1.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.1.6 實驗操作拓展
1.2 單光子計數(shù)實驗
1.2.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
1.2.2 簡要原理
1.2.3 實驗設(shè)備介紹
1.2.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.2.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.2.6 實驗操作拓展
1.3 弗蘭克-赫茲實驗
1.3.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
1.3.2 簡要原理
1.3.3 實驗設(shè)備介紹
1.3.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.3.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.3.6 實驗操作拓展
1.4 塞曼效應(yīng)實驗
1.4.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
1.4.2 簡要原理
1.4.3 實驗設(shè)備介紹
1.4.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.4.5 數(shù)據(jù)記錄與處理
1.4.6 實驗操作拓展
1.5 電子自旋共振實驗
1.5.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
1.5.2 簡要原理
1.5.3 實驗設(shè)備介紹
1.5.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.5.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.5.6 實驗操作拓展
1.6 光泵磁共振實驗
1.6.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
1.6.2 簡要原理
1.6.3 實驗設(shè)備介紹
1.6.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.6.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.6.6 實驗操作拓展
2 微波物理與光電探測實驗
2.1 微波參數(shù)測量實驗
2.1.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
2.1.2 簡要原理
2.1.3 實驗設(shè)備介紹
2.1.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
2.1.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
2.1.6 實驗操作拓展
2.2 微波布拉格衍射實驗
2.2.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
2.2.2 簡要原理
2.2.3 實驗設(shè)備介紹
2.2.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
2.2.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
2.2.6 實驗操作拓展
2.3 光電二極管光譜響應(yīng)度測量實驗
2.3.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
2.3.2 簡要原理
2.3.3 實驗設(shè)備介紹
2.3.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
2.3.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
2.3.6 實驗操作拓展
3 半導體物理實驗
3.1 X射線衍射實驗
3.1.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
3.1.2 簡要原理
3.1.3 實驗設(shè)備介紹
3.1.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
3.1.5 數(shù)據(jù)記錄與處理
3.1.6 實驗操作拓展
3.2 半導體材料電阻率測量實驗
3.2.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
3.2.2 簡要原理
3.2.3 實驗設(shè)備介紹
3.2.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
3.2.5 數(shù)據(jù)記錄與處理
3.2.6 實驗操作拓展
3.3 少子壽命測量實驗
3.3.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
3.3.2 簡要原理
3.3.3 實驗設(shè)備介紹
3.3.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
3.3.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
3.3.6 實驗操作拓展
4 信息光學實驗
4.1 全息光柵制作實驗
4.1.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
4.1.2 簡要原理
4.1.3 實驗設(shè)備介紹
4.1.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
4.1.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
4.1.6 實驗操作拓展
4.2 阿貝成像原理和空間濾波實驗
4.2.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
4.2.2 簡要原理
4.2.3 實驗設(shè)備介紹
4.2.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
4.2.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
4.2.6 實驗操作拓展
4.3 傅里葉變換全息圖實驗
4.3.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
4.3.2 簡要原理
4.3.3 實驗設(shè)備介紹
4.3.4 .實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
4.3.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
4.3.6 實驗操作拓展
5 薄膜光學實驗
5.1 真空鍍膜實驗
5.1.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
5.1.2 簡要原理
5.1.3 實驗設(shè)備介紹
5.1.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
5.1.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
5.1.6 實驗操作拓展
5.2 橢偏法測量折射率和厚度實驗
5.2.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
5.2.2 簡要原理
5.2.3 實驗設(shè)備介紹
5.2.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
5.2.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
5.2.6 實驗操作拓展
5.3 分光光度法測量透射率和反射率實驗
5.3.1 實驗目的、內(nèi)容與要求
5.3.2 實驗原理與方法
5.3.3 實驗設(shè)備
5.3.4 實驗操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
5.3.5 數(shù)據(jù)記錄與處理
5.3.6 實驗拓展
附錄A 光電探測器的響應(yīng)時間
A.1 脈沖響應(yīng)特性
A.2 幅頻特性
附錄B ZZS-700型真空鍍膜機及操作規(guī)程
附錄C TPY-2型橢圓偏振測厚儀及實驗操作規(guī)程
附錄D TJ270-30（30A）型紅外分光光度計和WFZ-26A型紫外可見分光光度計主要性能指標
D.1 TJ270-30（30A）型紅外分光光度計主要性能指