銀基電觸頭材料的電弧侵蝕行為與機理

定　價：￥99.90

作　者：	吳春萍
出版社：	冶金工業(yè)出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787502489366	出版時間：	2021-10-01	包裝：	平裝-膠訂
開本：	16開	頁數(shù)：	223	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書以銀基低壓電觸頭材料為研究對象，全面系統(tǒng)地介紹了操作次數(shù)、制備工藝、合金組元和含量對Ag/Ni電觸頭、Ag/ZnO電觸頭、Ag/CuO電觸頭、Ag/CdO電觸頭、Ag/SnO2電觸頭、Ag/SnO2In2O3電觸頭和Ag/MeO電觸頭電弧侵蝕行為（電接觸物理現(xiàn)象、電弧侵蝕率、電弧侵蝕形貌、橫截面金相顯微組織）的影響。在此基礎(chǔ)上，本書深入探討了銀基電觸頭材料的電弧侵蝕機理，旨在為銀基電觸頭材料的制備和應(yīng)用提供理論和實驗依據(jù)。本書內(nèi)容豐富、數(shù)據(jù)翔實、結(jié)構(gòu)嚴謹、可讀性強，可供從事材料設(shè)計、材料研發(fā)和工程應(yīng)用的科研人員和工程技術(shù)人員閱讀，也可供高等院校相關(guān)專業(yè)師生參考。

作者簡介

　　吳春萍，博士，副研究員，碩士研究生導(dǎo)師，現(xiàn)任中南大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院黨政辦與實驗中心黨支部書記。主要從事環(huán)保高性能銀基電觸頭材料研究與開發(fā)、銀合金內(nèi)氧化、銀金屬氧化物電觸頭材料制備、加工、電弧侵蝕性方面的研究，在三維輪廓儀、掃描電鏡、電子探針、原子力顯微鏡分析等材料現(xiàn)代測試技術(shù)方面有專長。以第一作者或通訊作者公開發(fā)表論文30余篇，其中ESI論文17篇，主持的各類項目有：國家自然科學(xué)基金青年項目1項（51601225）、湖南省自然科學(xué)基金面上項目1項（2018JJ2510）、湖南省自然科學(xué)基金青年項目1項（14JJ3014）、中國博士后基金面上項目1項（2012M521542）、浙江省博士后科研擇優(yōu)項目1項（Bsh1202）、中央高校基本科研業(yè)務(wù)費專項資金資助項目1項（2012QNZTO03），獲得省部級科學(xué)技術(shù)獎2項，申請發(fā)明專利8項，已授權(quán)國家發(fā)明專利5項，國際發(fā)明專利1項。

圖書目錄

1.1研究電觸頭電弧侵蝕的背景及意義1
1.2電接觸現(xiàn)象2
1.3分斷電弧的產(chǎn)生過程及作用機理3
1.4電弧侵蝕的影響因素9
1.5銀基電觸頭材料電弧侵蝕的研究進展11
1.6當前需要研究的內(nèi)容14
參考文獻21
2Ag/Ni電觸頭的電弧侵蝕行為與機理27
2.1操作次數(shù)對Ag/Ni(10)電觸頭電弧侵蝕行為的影響27
2.2Ag/Ni(12)電觸頭的電弧侵蝕行為35
2.3Ni含量對Ag/Ni電觸頭電弧侵蝕行為的影響46
參考文獻50
3Ag/ZnO電觸頭的電弧侵蝕行為52
3.1操作次數(shù)對Ag/ZnO(10)電觸頭電弧侵蝕行為的影響53
3.2ZnO含量對Ag/ZnO電觸頭電弧侵蝕行為的影響64
參考文獻68
4Ag/CuO電觸頭的電弧侵蝕行為與機理69
4.1操作次數(shù)對Ag/CuO(10)電觸頭電弧侵蝕行為的影響70
4.2CuO含量對Ag/CuO電觸頭電弧侵蝕行為的影響89
參考文獻93
5Ag/CdO電觸頭的電弧侵蝕行為與機理94
5.1操作次數(shù)對Ag/CdO(10)電觸頭電弧侵蝕行為的影響95
5.2CdO含量對Ag/CdO電觸頭電弧侵蝕行為的影響110
參考文獻116
6Ag/SnO2電觸頭的電弧侵蝕行為與機理118
6.1操作次數(shù)對Ag/SnO2(10)電觸頭電弧侵蝕行為的影響119
6.2制備工藝對Ag/SnO2(10）電觸頭電弧侵蝕行為的影響151
6.3制備工藝和含量對Ag/SnO2電觸頭電弧侵蝕行為的影響170
參考文獻176
7Ag/SnO2In2O3電觸頭的電弧侵蝕行為178
7.1操作次數(shù)對Ag/SnO2(6）In2O3(4）電觸頭電弧侵蝕行為的影響178
7.2In2O3對Ag/SnO2電觸頭電弧侵蝕行為的影響189
參考文獻194
8Ag/MeO電觸頭的電弧侵蝕行為與機理195
8.1Ag/MeO(10）電觸頭的組織與物理性能195
8.2操作次數(shù)對Ag/MeO(10）電觸頭電接觸物理現(xiàn)象的影響197
8.3操作次數(shù)對Ag/MeO(10）電觸頭電弧侵蝕率的影響210
8.4合金組元和含量對Ag/MeO(10）電觸頭電弧侵蝕行為的影響212
參考文獻222