微光像增強(qiáng)器測試技術(shù)

第1章 測試基礎(chǔ)
1.1 熱電子面發(fā)射源的研究
1.1.1 熱電子面發(fā)射源的理論分析
1.1.2 熱電子面發(fā)射源電場分布和電子軌跡計(jì)算
1.2 熱電子面發(fā)射源的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
1.3 熱電子面發(fā)射源調(diào)試試驗(yàn)
1.3.1 熱電子面發(fā)射源的性能試驗(yàn)及分析
1.3.2 熱電子面發(fā)射源與其他熱電子發(fā)射源的比較
1.4 新型熱電子面發(fā)射源的研究
1.4.1 傳統(tǒng)熱電子面發(fā)射源與新型熱電子面發(fā)射源分析
1.4.2 新型熱電子面發(fā)射源測試試驗(yàn)
1.4.3 已設(shè)計(jì)的熱電子面發(fā)射源樣機(jī)
1.5 漫反射原理及積分球的研究
1.5.1 漫反射原理及漫反射材料性質(zhì)
1.5.2 理想積分球研究
1.5.3 積分球出光孔照度衰減的研究
1.5.4 積分球出光孔照度標(biāo)定方法的研究
1.5.5 積分球設(shè)計(jì)
1.6 真空系統(tǒng)的調(diào)試與測試試驗(yàn)
1.6.1 真空系統(tǒng)的烘烤除氣處理與真空度調(diào)試
1.6.2 真空系統(tǒng)的漏率測試計(jì)算
1.6.3 真空系統(tǒng)空／負(fù)載性能研究
第2章 像增強(qiáng)器零部件測試技術(shù)
2.1 MCP電子清刷測試?yán)碚撗芯?br /> 2.1.1 MCP的工作原理
2.1.2 MCP電子清刷測試?yán)碚?br /> 2.2 電子清刷測試系統(tǒng)的性能指標(biāo)與總體方案設(shè)計(jì)
2.2.1 系統(tǒng)的設(shè)計(jì)要求與性能指標(biāo)
2.2.2 系統(tǒng)方案總體設(shè)計(jì)
2.3 MCP電阻與增益的測試及結(jié)果分析
2.3.1 高溫烘烤對(duì)MCP體電阻的影響測試研究
2.3.2 電子清刷對(duì)MCP增益的影響測試研究
2.4 熒光屏發(fā)光特性研究
2.4.1 固體發(fā)光及表征發(fā)光特性的物理量
2.4.2 陰極射線致發(fā)光
2.5 像增強(qiáng)器熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)的研究
2.5.1 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)理論
2.5.2 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)的測試原理
2.5.3 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)的理論設(shè)計(jì)
2.5.4 表征熒光屏性能的主要參數(shù)的定義及測試方法
2.6 熒光屏4種參數(shù)測試的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及保障
2.6.1 熒光屏均勻性和發(fā)光亮度測試的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及保障
2.6.2 熒光屏發(fā)光效率測試的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及保障
2.6.3 熒光屏發(fā)光余輝測試的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及保障
2.7 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)總成
2.7.1 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)的組成
2.7.2 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)的控制模塊
2.7.3 熒光屏綜合參數(shù)測試系統(tǒng)性能指標(biāo)
第3章 像增強(qiáng)器噪聲因子測試技術(shù)
3.1 微光像增強(qiáng)器噪聲因子理論
3.2 噪聲特性測試系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)
3.3 MCP與熒光屏組件噪聲特性測試原理及方法
3.4 MCP與熒光屏組件噪聲特性測試系統(tǒng)調(diào)試與結(jié)果分析
3.4.1 真空系統(tǒng)測試
3.4.2 MCP與熒光屏組件噪聲特性測試及結(jié)果分析
第4章 像增強(qiáng)器信噪比測試技術(shù)
4.1 像增強(qiáng)器信噪比測試原理
4.1.1 像增強(qiáng)器信噪比測試?yán)碚?br /> 4.1.2 像增強(qiáng)器信噪比測試標(biāo)準(zhǔn)
4.1.3 微光像增強(qiáng)器的性能參數(shù)
4.2 像增強(qiáng)器信噪比測試儀的總體結(jié)構(gòu)
4.2.1 信噪比測試儀的光學(xué)結(jié)構(gòu)分析
4.2.2 信噪比測試儀的功能要求
4.2.3 信噪比測試儀的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)
4.3 像增強(qiáng)器信噪比參數(shù)測試及分析
第5章 像增強(qiáng)器分辨力測試技術(shù)
5.1 像增強(qiáng)器分辨力測試原理
5.2 靶標(biāo)選擇
5.3 分辨力測試設(shè)計(jì)
5.3.1 紅外分辨力測試設(shè)計(jì)
5.3.2 紫外分辨力測試設(shè)計(jì)
5.3.3 微光分辨力理論研究
5.3.4 微光分辨力測試設(shè)計(jì)
第6章 像增強(qiáng)器亮度增益測試技術(shù)
6.1 像增強(qiáng)器亮度增益測試原理
6.1.1 亮度增益的測試原理
6.1.2 等效背景的測試原理
6.2 亮度增益測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
6.3 亮度增益測試結(jié)果分析
6.4 像增強(qiáng)器綜合參數(shù)測試儀研制
6.4.1 微光像增強(qiáng)器信噪比測試子系統(tǒng)
6.4.2 微光像增強(qiáng)器亮度增益測試子系統(tǒng)
6.4.3 微光像增強(qiáng)器鑒別率測試子系統(tǒng)
6.4.4 研制結(jié)果
第7章 像增強(qiáng)器發(fā)光均勻性測試技術(shù)
7.1 均勻性測試儀系統(tǒng)設(shè)計(jì)的理論研究
7.2 多型號(hào)微光像增強(qiáng)器成像均勻性測試儀系統(tǒng)設(shè)計(jì)
7.2.1 均勻性測試儀技術(shù)指標(biāo)要求
7.2.2 均勻性測試儀總體設(shè)計(jì)方案
7.3 多型號(hào)微光像增強(qiáng)器成像均勻性測試儀實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證與分析
7.3.1 積分球出光孔照度標(biāo)定實(shí)驗(yàn)
7.3.2 積分球出光孔照度衰減干擾因子驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)
7.3.3 微光像增強(qiáng)器成像均勻性測試儀標(biāo)定及產(chǎn)品測試實(shí)驗(yàn)
第8章 紫外成像光電系統(tǒng)性能測試裝置
8.1 研究目標(biāo)
8.2 系統(tǒng)要求
8.2.1 功能要求
8.2.2 性能指標(biāo)
8.3 紫外器件綜合性能測試儀
8.3.1 紫外器件性能參數(shù)測試原理
8.3.2 紫外器件綜合性能測試儀具體設(shè)計(jì)方案
8.4 紫外光學(xué)系統(tǒng)焦距測量儀
8.4.1 紫外光學(xué)系統(tǒng)焦距測量原理
8.4.2 紫外光學(xué)系統(tǒng)焦距測量儀功能組成及設(shè)計(jì)方案
8.5 紫外光學(xué)系統(tǒng)透射比測試儀
8.5.1 紫外光學(xué)系統(tǒng)透射比測試儀功能組成
8.5.2 紫外光學(xué)系統(tǒng)透射比測試儀設(shè)計(jì)方案
8.6 設(shè)備實(shí)際達(dá)到的技術(shù)指標(biāo)
8.6.1 紫外