高等儀器分析

定　價：￥98.00

作　者：	王霆，孫鐵東
出版社：	科學出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

購買這本書可以去

當當網(wǎng) (￥82.80)

ISBN：	9787030762153	出版時間：	2023-09-01	包裝：	平裝膠訂
開本：	16開	頁數(shù)：		字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書圍繞分子結構解析和材料表界面研究，分九章系統(tǒng)介紹與之相關的各種先進儀器分析方法，包括質(zhì)譜分析法、一維核磁共振波譜分析法、二維核磁共振波譜分析法、紅外和拉曼波譜分析法、紫外和分子熒光波譜分析法、X射線衍射分析法、X射線光電子能譜分析法、表面顯微分析法。對于每種方法的發(fā)展史、基本原理、常用概念、主要測定技術、測試影響因素以及方法的應用實例都給出了深入的介紹。