高頻電子電路S參數(shù)測量與校準技術

第1章 S參數(shù)及其與其他參數(shù)矩陣問變換關系
1.1 S參數(shù)定義
1.2 S參數(shù)與Smith圖
1.3 S參數(shù)與X參數(shù)關系
1.4 其他兩端口矩陣及其與S參數(shù)變換關系
1.4.1 Z參數(shù)
1.4.2 Y參數(shù)
1.4.3 ABCD參數(shù)
1.4.4 H參數(shù)
1.4.5 T參數(shù)
1.5 各矩陣間變換關系
1.6 矩陣基本運算
1.7 其他基本數(shù)學公式
1.7.1 歐拉公式
1.7.2 復數(shù)根式運算
1.8 本章小結
參考文獻
第2章 矢量網(wǎng)絡分析儀簡介
2.1 矢量網(wǎng)絡分析儀關鍵參數(shù)指標
2.1.1 源參數(shù)指標
2.1.2 接收機參數(shù)指標
2.1.3 綜合指標
2.2 S參數(shù)校準基本過程
2.3 本章小結
參考文獻
第3章 校準標準件制造與建模
3.1 校準件分類與特點
3.1.1 同軸校準件
3.1.2 矩形波導校準件
3.1.3 在片校準件與射頻探針
3.2 在片校準件制造關鍵點
3.2.1 襯底材料選擇
3.2.2 負載標準件50Ω電阻 控制
3.2.3 傳輸線特征阻抗50Ω 控制
3.3 校準件質量對校準結果的影響
3.4 校準件數(shù)學模型
3.5 同軸數(shù)據(jù)基校準件的制備方法
3.6 本章小結
參考文獻
第4章 信號流圖與常用誤差模型
4.1 信號流圖基本原理
4.1.1 相關術語
4.1.2 Mason增益公式
4.2 常用S參數(shù)校準誤差模型
4.2.1 單端口誤差模型
4.2.2 兩端口誤差模型
4.2.3 多端口誤差模型
4.3 本章小結
參考文獻
第5章 S參數(shù)校準及去嵌原理
5.1 原始數(shù)據(jù)修正
5.1.1 開關項修正
5.1.2 隔離項修正
5.2 單端口校準方法
5.2.1 OSL校準方法
5.2.2 MOSL與RRR校準方法
5.2.3 OSL去嵌方法
5.3 兩端口校準方法
5.3.1 SOLT（TOSM）方法族
5.3.2 TRL（LRL）方法族
5.3.3 LRM（TRM）方法族
5.3.4 16-SOLT-SVD校準方法
5.3.5 數(shù)據(jù)比對
5.3.6 兩端口去嵌方法比較
5.4 多端口校準方法
5.4.1 多端口矢量網(wǎng)絡分析儀基本原理
5.4.2 常見的多端口校準方法
5.4.3 差分參數(shù)校準
5.4.4 多端口去嵌方法
5.5 內插算法
5.6 高低溫S參數(shù)校準
5.6.1 校準件參數(shù)動態(tài)補償法
5.6.2 校準件恒溫自校準方法
5.7 源功率校準與接收機功率校準
5.7.1 源功率校準
5.7.2 接收機功率校準
5.8 全自動在片校準與測試
5.9 本章小結
參考文獻
第6章 校準結果判斷與不確定度分析
6.1 校準前設置注意事項
6.1.1 系統(tǒng)連接情況
6.1.2 中頻帶寬
6.1.3 平均次數(shù)影響
6.1.4 數(shù)據(jù)平滑處理
6.1.5 測試功率
6.1.6 衰減器影響
6.1.7 連續(xù)與波脈沖
6.1.8 在片校準特殊注意事項
6.2 校準中注意事項
6.3 校準后結果工程判斷方法
6.4 校準后結果定量判斷方法——校準結果驗證算法
6.5 殘余誤差計算與不確定度分析
6.5.1 殘余誤差計算
6.5.2 不確定度分析
6.6 本章小結
參考文獻
第7章 校準時問穩(wěn)定性提升方法
7.1 短期漂移
7.2 實例驗證與分析
7.3 本章小結
參考文獻