片上系統(tǒng)測(cè)試設(shè)計(jì)與優(yōu)化

定　價(jià)：￥88.00

作　者：	（瑞典）埃里克·拉森著；孫仁杰譯
出版社：	科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787030769183	出版時(shí)間：	2023-11-01	包裝：	平裝膠訂
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)旨在討論片上系統(tǒng)（SoC）測(cè)試的相關(guān)問(wèn)題，包括建模以及片上系統(tǒng)測(cè)試解決方案的設(shè)計(jì)和優(yōu)化。需要測(cè)試的系統(tǒng)越來(lái)越復(fù)雜，測(cè)試數(shù)據(jù)量不斷增加，如何組織測(cè)試，即測(cè)試調(diào)度變得越來(lái)越重要。本書(shū)主要站在系統(tǒng)級(jí)的角度闡明模塊化SoC測(cè)試領(lǐng)域的諸多問(wèn)題?！禕R》本書(shū)由三部分組成，在概述經(jīng)典測(cè)試方法的基礎(chǔ)上，介紹測(cè)試大型、模塊化和異構(gòu)SoC面臨的挑戰(zhàn)和困難，并詳細(xì)介紹作者團(tuán)隊(duì)為克服上述困難所做的研究工作。