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FPGA芯片設(shè)計(jì)與測(cè)試技術(shù)研究

FPGA芯片設(shè)計(jì)與測(cè)試技術(shù)研究

定 價(jià):¥59.00

作 者: 張惠國(guó),顧涵
出版社: 蘇州大學(xué)出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 暫缺

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ISBN: 9787567238992 出版時(shí)間: 2022-02-01 包裝:
開(kāi)本: 16開(kāi) 頁(yè)數(shù): 196 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  《FPGA芯片設(shè)計(jì)與測(cè)試技術(shù)研究》圍繞基于SRAM的FPGA,針對(duì)島狀的架構(gòu),對(duì)FPGA的各個(gè)模塊進(jìn)行了詳細(xì)的分析和設(shè)計(jì),并設(shè)計(jì)了可擴(kuò)展的FPGA配置電路及可靠全局信號(hào)網(wǎng)絡(luò),同時(shí)對(duì)FPGA進(jìn)行了抗輻照改進(jìn)設(shè)計(jì)。封測(cè)結(jié)果表明,改進(jìn)的設(shè)計(jì)具有較好的抗干擾性能及較高的抗輻照特性,以上結(jié)果應(yīng)用到了規(guī)模為6000門(mén)、20萬(wàn)門(mén)、30萬(wàn)門(mén)、60萬(wàn)門(mén)、100萬(wàn)門(mén)等多個(gè)FPGA設(shè)計(jì)中。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《FPGA芯片設(shè)計(jì)與測(cè)試技術(shù)研究》作者簡(jiǎn)介

圖書(shū)目錄

第1章 緒論
1.1 研究背景
1.1.1 FPGA分類及特點(diǎn)
1.1.2 FPGA國(guó)內(nèi)外發(fā)展概況
1.2 FPGA研究的目標(biāo)和意義
1.3 本書(shū)主要工作
第2章 CLB、IOB及布線設(shè)計(jì)
2.1 可編程邏輯塊設(shè)計(jì)
2.1.1 FPGA高性能查找表的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
2.1.2 CLB算術(shù)邏輯及快速進(jìn)位鏈的設(shè)計(jì)
2.2 輸入輸出接口設(shè)計(jì)
2.2.1 I/O接口簡(jiǎn)介
2.2.2 可編程I/O接口的原理與設(shè)計(jì)
2.3 布線結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和層構(gòu)擴(kuò)展技術(shù)
2.3.1 布線結(jié)構(gòu)概述
2.3.2 布線結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
2.3.3 層構(gòu)設(shè)計(jì)
2.3.4 層構(gòu)中的開(kāi)關(guān)設(shè)計(jì)
2.3.5 層構(gòu)的拼接與互聯(lián)
2.4 本章小結(jié)
第3章 FPGA的配置電路設(shè)計(jì)
3.1 基于JTAG的FPGA配置電路
3.1.1 基于JTAG的配置過(guò)程
3.1.2 配置控制結(jié)構(gòu)
3.1.3 CRC校驗(yàn)?zāi)K
3.1.4 設(shè)計(jì)驗(yàn)證與物理實(shí)現(xiàn)
3.2 易擴(kuò)展配置電路的設(shè)計(jì)
3.2.1 FPGA啟動(dòng)過(guò)程
3.2.2 配置電路設(shè)計(jì)
3.3 本章小結(jié)
第4章 全局信號(hào)網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計(jì)
4.1 FPGA配置單元抗干擾維持電路設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)
4.1.1 FPGA配置單元設(shè)計(jì)和噪聲容限仿真
4.1.2 抗干擾低壓維持結(jié)構(gòu)原理
4.1.3 設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
4.1.4 物理實(shí)現(xiàn)
4.1.5 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
4.2 FPGA時(shí)鐘分配網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)技術(shù)
4.2.1 FPGA的時(shí)鐘布線結(jié)構(gòu)
4.2.2 利用鎖相環(huán)的時(shí)鐘分配結(jié)構(gòu)
4.3 本章小結(jié)
……
第5章 FPGA的抗輻照加固設(shè)計(jì)
第6章 FPGA的測(cè)試
第7章 FPGA芯片特性
第8章 結(jié)束語(yǔ)
參考文獻(xiàn)
附錄

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