材料測試技術與分析方法（第3版）

定　價：￥69.00

作　者：	暫缺
出版社：	哈爾濱工業(yè)大學出版社
叢編項：
標　簽：	暫缺

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ISBN：	9787576709193	出版時間：	2023-08-01	包裝：	平裝
開本：		頁數(shù)：	427	字數(shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書介紹了材料測試儀器的組成、基本原理、樣品的制備、測試步驟和數(shù)據(jù)分析。全書共分19章，依次為掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡、X射線光電子能譜、俄歇電子能譜、拉曼光譜、掃描隧道電子顯微鏡、原子力顯微鏡、X射線衍射分析、紅外吸收光譜、紫外-可見分光光度法和紫外漫反射光譜、分子熒光光譜法、X射線熒光光譜、核磁共振波譜法、電子順磁共振、質(zhì)譜分析法、熱分析技術、等離子體發(fā)射光譜、電化學分析方法和聯(lián)用測試技術與分析方法。在編撰過程中，以培養(yǎng)學生獨立分析問題和解決問題的能力為重心，盡量簡化理論深度，突出實用性。本書內(nèi)容全面、實用性和系統(tǒng)性強，既可作為高校材料科學與工程、化學和化工類等專業(yè)高年級本科生與研究生的教材，也可作為從事材料科學研究與分析測試的工程技術人員的參考書。

作者簡介

暫缺《材料測試技術與分析方法（第3版）》作者簡介

圖書目錄

第1章掃描電子顯微鏡
1.1 簡介
1.2 掃描電子顯微鏡的系統(tǒng)組成
1.3 樣品的制備
1.4 掃描電子顯微鏡的基本原理與分析方法
1.5 掃描電子顯微鏡分析示例
1.6 掃描電子顯微鏡技術的發(fā)展
習題
知識鏈接
第2章透射電子顯微鏡
2.1 簡介
2.2 TEM的系統(tǒng)組成及工作原理
2.3 樣品的制備技術(復型技術)
2.4 應用實例
2.5 高分辨透射電子顯微鏡簡介與應用
習題
知識鏈接
第3章 X射線光電子能譜
3.1 簡介
3.2 XPS系統(tǒng)組成
3.3 XPS的基本原理
3.4 樣品的制備
3.5 XPS的功能
3.6 XPS的應用與實例解析
習題
知識鏈接
第4章俄歇電子能譜
4.1 簡介
4.2 系統(tǒng)組成
4.3 工作基本原理
4.4 樣品的制備
4.5 測試方法
4.6 AES分析方法與應用實例習題
知識鏈接
第5章拉曼光譜
5.1 簡介
5.2 系統(tǒng)組成
5.3 工作原理
5.4 樣品的制備
5.5 測試方法
5.6 分析方法與應用實例
習題
知識鏈接
第6章掃描隧道電子顯微鏡
6.1 簡介
6.2 系統(tǒng)組成
6.3 基本原理
6.4 測試方法
6.5 應用實例
習題