儲(chǔ)層實(shí)驗(yàn)測(cè)試分析簡明教程

定　價(jià)：￥58.00

作　者：	朱毅秀
出版社：	石油工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

ISBN：	9787518356638	出版時(shí)間：	2022-12-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	324	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書主要介紹油氣儲(chǔ)層研究中的主要實(shí)驗(yàn)測(cè)試技術(shù)、方法及應(yīng)用。重點(diǎn)介紹常規(guī)巖礦分析和系列儀器分析，具體介紹樣品選取方法與規(guī)則、普通薄片和鑄體薄片鑒定、粒度分析與重礦物分析、儲(chǔ)層物性分析、X射線衍射分析、掃描電子顯微鏡與微束分析法、電子探針波譜及能譜分析、陰極發(fā)光顯微分析、熒光薄片顯微鏡分析、包裹體分析、穩(wěn)定同位素分析、光譜學(xué)分析和儲(chǔ)層敏感性分析等內(nèi)容，闡述了各測(cè)試技術(shù)的基本原理、樣品制備方法、資料解釋及其在不同儲(chǔ)層中的應(yīng)用。本書可作為高等院校資源勘查工程、地質(zhì)資源與地質(zhì)工程、地質(zhì)學(xué)等相關(guān)專業(yè)本科生和研究生的教材或教學(xué)參考書，也可以作為油氣資源（常規(guī)和非常規(guī)）儲(chǔ)層研究人員和地質(zhì)實(shí)驗(yàn)室技術(shù)人員的參考資料。

作者簡介

暫缺《儲(chǔ)層實(shí)驗(yàn)測(cè)試分析簡明教程》作者簡介

圖書目錄

緒論
節(jié) 巖石礦物分析技術(shù)
第二節(jié) 油氣儲(chǔ)層分析測(cè)試技術(shù)
章儲(chǔ)油氣層樣品處理和薄片分析
節(jié) 油氣生儲(chǔ)蓋層檢測(cè)樣品取樣與初處理
第二節(jié) 碎屑巖普通薄片鑒定
第三節(jié) 碳酸鹽巖和其他巖石普通薄片鑒定
第四節(jié) 巖石鑄體薄片分析
第二章粒度分析與重礦物分析
節(jié) 粒度分析
第二節(jié) 重礦物分析
第三章儲(chǔ)層物性分析
節(jié) 孔隙度分析
第二節(jié) 滲透率分析
第三節(jié) 孔隙結(jié)構(gòu)分析
第四節(jié) 含油（氣）飽和度分析
第五節(jié) 細(xì)粒巖儲(chǔ)層物性分析
第四章 X射線衍射分析
節(jié) X射線及其產(chǎn)生的原理
第二節(jié) X射線衍射儀
第三節(jié) X射線分析的制樣方法與主要用途
第四節(jié) X射線衍射譜圖與常見礦物X射線衍射譜圖特征
第五節(jié) X射線衍射分析在油氣地質(zhì)中的應(yīng)用
第五章電子顯微鏡分析
節(jié) 微束分析法與表面分析法
第二節(jié) 電子顯微鏡概述
第三節(jié) 掃描電子顯微鏡工作原理及樣品制備
第四節(jié) 黏土礦物及其他礦物在掃描電鏡分析中的特征
第五節(jié) 掃描電鏡在沉積學(xué)及油氣儲(chǔ)層研究中的應(yīng)用
第六節(jié) 掃描電鏡在地質(zhì)學(xué)中的其他應(yīng)用
第六章電子探針波譜與能譜分析
節(jié) 電子探針波譜儀與能譜儀基本原理
第二節(jié) 電子探針與能譜儀功能與制樣
第三節(jié) 電子探針及能譜儀分析在礦物學(xué)研究中的應(yīng)用
第四節(jié) 電子探針及能譜儀與其他儀器結(jié)合及應(yīng)用
第七章陰極發(fā)光顯微分析
節(jié) 陰極發(fā)光概述
第二節(jié) 陰極發(fā)光顯微鏡的儀器結(jié)構(gòu)與工作原理
第三節(jié) 常見礦物的陰極發(fā)光特征
第四節(jié) 陰極發(fā)光在礦物學(xué)中的應(yīng)用
第五節(jié) 陰極發(fā)光在巖漿巖和變質(zhì)巖巖石學(xué)中的應(yīng)用
第六節(jié) 陰極發(fā)光顯微鏡在成巖作用及儲(chǔ)層研究中的應(yīng)用
第八章熒光顯微鏡分析
節(jié) 熒光顯微鏡工作原理與基本結(jié)構(gòu)
第二節(jié) 熒光顯微鏡在含油氣巖石中的鑒定內(nèi)容
第三節(jié) 熒光顯微鏡分析在油氣地質(zhì)研究中的應(yīng)用
第四節(jié) 熒光顯微鏡分析在煤與油頁巖研究中的應(yīng)用
第九章包裹體分析
節(jié) 包裹體概述
第二節(jié) 流體包裹體分析方法