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電子-光子級(jí)聯(lián):概率觀點(diǎn)(英文版)

電子-光子級(jí)聯(lián):概率觀點(diǎn)(英文版)

定 價(jià):¥199.00

作 者: Vladimir V. Uchaikin
出版社: 高等教育出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 暫缺

ISBN: 9787040635591 出版時(shí)間: 2025-03-01 包裝: 精裝
開本: 頁數(shù): 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  本書展示了一種替代方法在高能天體物理學(xué)中的實(shí)際應(yīng)用。在高能天體物理過程中,單次碰撞伴隨著許多具有不同性質(zhì)的二次粒子的出現(xiàn)。要描述這樣一個(gè)系統(tǒng)在測(cè)量時(shí)刻的無窮小演化,就像推導(dǎo)具有守恒粒子數(shù)的系統(tǒng)的動(dòng)力學(xué)方程時(shí)通常做的那樣,必須知道它的開始階段或者多粒子分布的無限族。另一種方法是使用伴隨(在拉格朗日的意義上)數(shù)學(xué)形式,其中主動(dòng)自變量是產(chǎn)生級(jí)聯(lián)的初級(jí)粒子的相位,而因變量的形式是整個(gè)級(jí)聯(lián)的函數(shù),被解釋為一些不一定是線性(加性)檢測(cè)器的讀數(shù)。這種方法的特點(diǎn)是數(shù)學(xué)效率:無論級(jí)聯(lián)中形成多少個(gè)粒子,所需函數(shù)的有效自變量總是一個(gè)粒子。第二個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它的通用性:探測(cè)器的讀數(shù)形式化,通過級(jí)聯(lián)的隨機(jī)實(shí)現(xiàn)功能進(jìn)行實(shí)際測(cè)量,使其能夠應(yīng)用于廣泛的實(shí)際使用的設(shè)備和裝置。讀者將能夠在該領(lǐng)域的最新發(fā)展背景下掌握粒子天體物理學(xué)的基本原理。它將使研究生和研究人員都受益,為他們提供設(shè)計(jì)和解釋自己的實(shí)驗(yàn)所需的知識(shí)和工具,并最終解決最近研究中出現(xiàn)的一些關(guān)于宇宙粒子性質(zhì)和起源的問題。

作者簡(jiǎn)介

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