集成電路設(shè)計(jì)與集成系統(tǒng)：數(shù)字集成電路測試及可測性設(shè)計(jì)

第1章 緒論     001
1.1 電路測試的意義     001
1.2 電路測試的分類及基本方法     005
1.2.1 電路測試分類     005
1.2.2 電路測試基本方法     007
1.3 自動(dòng)測試設(shè)備     009
習(xí)題      010
第2章 數(shù)字集成電路測試基礎(chǔ)     011
2.1 缺陷、錯(cuò)誤和故障     011
2.1.1 缺陷、錯(cuò)誤     011
2.1.2 故障     012
2.1.3 常用故障模型     013
2.1.4 單固定故障     014
2.2 單固定故障精簡     018
2.2.1 故障等效     018
2.2.2 故障支配     020
2.2.3 最小故障集精簡     021
2.2.4 測試向量生成舉例     023
2.3 多固定故障     024
2.4 故障淹沒     024
習(xí)題      025
第3章 測試向量生成      027
3.1 自動(dòng)測試向量生成     027
3.1.1 布爾差分法     028
3.1.2 路徑敏化法     030
3.2 隨機(jī)測試向量生成     036
3.2.1 純隨機(jī)測試向量生成     036
3.2.2 偽隨機(jī)測試向量生成     037
3.3 模擬     042
3.3.1 驗(yàn)證、模擬與仿真     042
3.3.2 邏輯模擬     044
3.3.3 故障模擬     045
3.4 實(shí)例     050
3.4.1 自動(dòng)測試向量生成EDA工具     050
3.4.2 自動(dòng)測試向量生成實(shí)例     052
3.4.3 邏輯模擬與故障模擬實(shí)例     068
3.4.4 偽隨機(jī)測試向量生成電路實(shí)例     073
3.4.5 TetraMAX工具腳本     075
習(xí)題      075
第4章 可測性設(shè)計(jì)與掃描測試     078
4.1 可測性設(shè)計(jì)分析     078
4.1.1 可測性分析     078
4.1.2 電路測試問題     079
4.2 掃描測試設(shè)計(jì)     083
4.3 全掃描設(shè)計(jì)     088
4.3.1 掃描路徑測試     088
4.3.2 掃描測試計(jì)算     089
4.3.3 掃描測試舉例     091
4.4 基于EDA工具的掃描設(shè)計(jì)     092
4.5 實(shí)例     094
4.5.1 掃描鏈插入EDA工具     094
4.5.2 掃描鏈插入實(shí)例     095
4.5.3 DFT Compiler工具腳本     101
習(xí)題      102
第5章 邊界掃描測試     104
5.1 邊界掃描基礎(chǔ)     104
5.2 邊界掃描結(jié)構(gòu)     105
5.2.1 測試訪問端口     108
5.2.2 數(shù)據(jù)寄存器     109
5.2.3 指令寄存器     112
5.2.4 指令     113
5.2.5 TAP控制器及操作     116
5.2.6 邊界掃描鏈結(jié)構(gòu)     122
5.3 邊界掃描描述語言     123
5.4 實(shí)例     132
5.4.1 TAP控制器的硬件描述     132
5.4.2 累加器的邊界掃描描述     135
習(xí)題      138
第6章 內(nèi)建自測試     139
6.1 內(nèi)建自測試概念     139
6.1.1 內(nèi)建自測試類型     142
6.1.2 內(nèi)建自測試向量生成     143
6.2 響應(yīng)數(shù)據(jù)分析     143
6.2.1 數(shù)“1”法     144
6.2.2 跳變計(jì)數(shù)法     144
6.2.3 奇偶校驗(yàn)法     144
6.2.4 簽名分析法     145
6.3 內(nèi)建自測試結(jié)構(gòu)     149
6.3.1 按時(shí)鐘測試BIST系統(tǒng)     149
6.3.2 按掃描測試BIST系統(tǒng)     150
6.3.3 循環(huán)BIST系統(tǒng)     150
6.3.4 內(nèi)建邏輯塊觀察器     150
6.3.5 隨機(jī)測試塊     152
6.4 實(shí)例     153
6.4.1 內(nèi)建自測試電路設(shè)計(jì)     153
6.4.2 多輸入簽名分析電路設(shè)計(jì)     157
習(xí)題      158
第7章 存儲器測試     161
7.1 存儲器結(jié)構(gòu)     161
7.2 存儲器故障模型     163
7.3 存儲器測試算法     165
7.3.1 MSCAN測試算法     166
7.3.2 GALPAT測試算法     166
7.3.3 其他測試算法     167
7.4 存儲器測試方法     173
7.4.1 存儲器直接存取測試     173
7.4.2 存儲器內(nèi)建自測試     173
7.4.3 宏測試     175
7.5 存儲器修復(fù)     176
7.6 實(shí)例     176
習(xí)題      186
參考文獻(xiàn)     190