鎳基單晶合金高溫氧化與腐蝕

定　價(jià)：￥148.00

作　者：	溫志勛
出版社：	國防工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787118128772	出版時(shí)間：	2022-06-01	包裝：	平裝-膠訂
開本：	16開	頁數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書針對(duì)鎳基單晶渦輪葉片的服役環(huán)境，系統(tǒng)研究了多元鎳基單晶合金的高溫氧化腐蝕行為、影響因素和氧化腐蝕-力學(xué)耦合行為，主要涉及高溫合金氧化、熱腐蝕、電化學(xué)腐蝕、蠕變和熱疲勞等試驗(yàn)技術(shù)，超景深光學(xué)顯微（OM）、X射線衍射（XRD）、掃描電鏡（SEM）、能譜分析（EDS）、共聚焦離子束（FIB）、透射電鏡（TEM）等分析測試技術(shù)，以及氧化動(dòng)力學(xué)、氧化擴(kuò)散理論、晶體塑性理論、損傷力學(xué)和斷裂力學(xué)等理論方法。

作者簡介

　　溫志勛，1982年3月生，漢族，博士，西北工業(yè)大學(xué)教授（博導(dǎo)），目前主要從事航空發(fā)動(dòng)機(jī)單晶渦輪葉片結(jié)構(gòu)強(qiáng)度壽命理論與方法、可靠性理論及其應(yīng)用，鎳基單晶合金、CMC先進(jìn)材料服役損傷機(jī)理與本構(gòu)壽命模型，燃?xì)猸h(huán)境下航空發(fā)動(dòng)機(jī)渦輪葉片旋轉(zhuǎn)測試技術(shù)等領(lǐng)域的研究工作。